法国PHASICISSID 4系列波前传感器
四波横向剪切干涉波前传感器
产品介绍:法国PHASICS(上海一智光电机构)的波前分析仪是基于其波前测量——4波横向剪切干涉术。作为Shack-Hartmann技术的改进，该技术结合了高分辨率和大动态范围。可以实现全面、简单、快速的测量。
法国Phasics SID4系列波前分析仪的主要应用领域:
1.激光束参数的测量:相位(2D/3D)、M2、束腰位置、直径、泽尼克/勒让德系数。
2.自适应光学:焦点优化和光束成形。
3.部件的表面质量分析:表面质量(RMS、PtV、WFE)和曲率半径。
4.光学系统质量分析:MTF，PSF，EFL，zernike系数，光学透镜/系统质量控制。
5.热成像分析、等离子体特性分析
6.生物应用:蛋白质组织定量相位成像。
法国Phasics SID4系列波前分析仪的产品特点:
1.高分辨率:120000个采样点。
2.直接测量:消色差设计，测量前无需再次校准波长。
3.消色差:干涉和衍射抵消了波长。
4.高动态范围:高达500μm m。
5.防震设计，内部光栅横向剪切干涉，实验条件要求简单，测试无需隔离平台。
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