高质量金属薄膜电容器的测量频率应为1 kHz±20Hz(如果大于1微法聚酯电容器，则为120 Hz)，测量温度应为25 oC±5°C。标准偏差为10%。介电强度是电容器在额定室温下可以承受的最大峰值电压。它可以通过施加额定电压值的指定倍数并流过每伏100ω的限流电阻一分钟来测量。
在高额定温度下，金属薄膜电容器的寿命为3°C，电容器在额定电压的规定倍数下工作500或1，000 (+72，-2)小时。必须无外观和损伤，电容值变化不得超过5%。绝缘电阻不会下降到初始极限的50%。损耗角正切不会超过初始极限。
金属膜的电容不同于箔膜的电容。在这里教你如何选择。对于金属化薄膜电容器，通过薄膜真空沉积将铝喷涂在介电膜上以形成电容器极板。与由单独的箔和薄膜层制成的电容器相比，金属化的电容器尺寸更小、重量更轻、每法拉成本更低并且具有自修复能力。但是也导致较低的电流容量。就高额定电容而言，更小的尺寸和更低的成本尤其具有吸引力。
金属薄膜电容器的自愈是指由瞬态过电压或薄膜中的缺陷引起的内部短路，通过在几微秒内蒸发缺陷位置的铝金属化来消除。这是施加电压的一个小故障，但电容器没有损坏。
电容的减少可以忽略不计。
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