ASTMF 792-08安检套件，ZYK-F792-08 X射线安检箱用于使用多个X射线试件在九个不同的测试区域中校准和评估X射线筛查系统的性能水平。
为了满足测试复杂的X射线系统的需要，阶梯楔的制造严格符合FAA，TSA，加拿大交通部和DHS的要求。它的开发是为了满足增强的多测试X射线测试标准，该标准基本上取代了WG F792-88标准以及WG F792-01（e2）案例。每个套件都提供了一个坚固的定制设计，注塑外壳与保护泡沫块，保持在适当的位置，无论案件的立场步骤楔。我们所有的工具包都带有1年的制造商缺陷保修。
X射线成像系统在全国范围内由国内和军事执法，矫正和安全机构使用。这些系统用于国际边界、交通场所、政府大楼和其他场所。X光系统用于发现隐藏的物体，包括威胁和违禁品。
NIST安全技术小组（STG）最近领导了一项工作，以修订和更新最重要的国际公认和接受的检查站X射线系统成像性能标准。该文件标准被称为ASTM F792，“评估安全X射线系统成像性能的标准实践”，在世界各地广泛用于测量此类系统的图像质量和材料检测能力。该标准于20世纪80年代制定，由STG主导的2017年修订版是15年多来的首次重大修订。
修订后的标准现在包含了三个不同的测试对象，用于不同的测试场景，这大大提高了以前依赖于单个测试对象的标准的适用性和实用性。
我们很高兴能够提供这三个测试套件沿着ASTM F792-88、ASTM F792-08安全阶梯楔和我们独有的CCSP测试套件，这些都是有效的X射线安全筛查系统的重要组成部分。
ASTM-F792-17的三个修订测试对象可描述如下：
F792-RT是一个小型测试对象，用于X射线系统的常规测试（RT）（例如日常测试，以确保系统正常运行）。nbsp;该测试对象是F792-88测试对象的修改，F792-88测试对象已被撤回，但仍被行业用于机柜X射线系统成像性能的现场验证。
F792-HP测试对象依赖于特征可见性的人类感知（HP）判断来对其测试进行评分。这基本上是对先前F792-08测试对象的升级，并进行了一些重大改进，特别是在材料检测测试方面。
F792-OE测试对象被设计为进行客观评估（OE），即使用计算机算法进行评估。这个测试对象的设计与RT和HP的设计不同，RT和HP必须由人类评估。nbsp; F792-OE测试对象的图像由标准中定义的一组标准图像分析算法进行评估。因此，人的主观性或感知的差异不会影响OE测试的评分。
