TDR阻抗测试仪是一种利用时域反射（Time Domain Reflectometry）技术来测量传输线（如高速PCB走线、电缆等）特性阻抗分布和阻抗不连续点位置的仪器。它通过向被测线缆或走线注入高速阶跃信号，并分析返回的反射波形来判断哪里阻抗偏离目标值。例如国内领先的PCB测量仪器、智能检测设备等专业解决方案供应商，Bamtone班通自研推出的Bamtone H系列，有高达20 G的带宽，可用于高速PCB设计与生产中的阻抗控制与抽检。
一般来说，TDR阻抗测试仪和网络分析仪都能看“阻抗”和不连续性，但定位和擅长方向不同：前者是时域反射工具，直观看“哪里有问题”；后者是频域S参数仪器，精确表征“整个网络在各频点的传输特性”。两者之间测量原理和用途有差异。
测量原理：
TDR阻抗测试仪 ：发出一个很快的阶跃/脉冲，在时域观察反射波形，得到阻抗随时间/距离的变化。主要看反射，适合做故障定位、阻抗连续性、走线/线缆分布阻抗等。
网络分析仪（矢量网络分析仪） ： 发出扫频连续波，在频域测量S参数（S11、S21等），得到幅度和相位随频率的响应。既能看反射（回波损耗、VSWR），也能看传输（插入损耗、串扰），适合完整射频/高速链路特性分析。
主要用途：
TDR阻抗测试仪：
PCB走线/线缆特性阻抗测量与分布阻抗曲线（单端50 Ω、差分100 Ω等）。
查找开路、短路、阻抗突变，明确“在多远位置出现不连续”。
生产线上的快速判定和抽检，操作相对简单。
网络分析仪：
射频器件、滤波器、连接器、高速通道等的宽带插入损耗、回波损耗、群时延、眼图等综合指标。
精确S参数建模（仿真用Touchstone文件）、器件匹配网络设计与优化。
需要高精度、宽动态范围的高频/微波测试。
测量结果与直观性：
TDR阻抗测试仪：输出是“阻抗/反射系数 vs 时间或距离”的曲线，非常直观地看到每个不连续点位置及类型（电容性/电感性等）。 不直接给出频域指标（如在某个GHz下的回波损耗），需要额外处理才能得到。
网络分析仪：原生给出“幅度/相位 vs 频率”的曲线，更适合评估在目标工作频段内的性能（如1–10 GHz）。带时域功能的网络分析仪可以通过逆傅里叶变换生成类似TDR的时域波形，但本质仍由频域数据变换而来。
