Ux-720探测系统
功能：对样品特征X射线进行探测，将采集来的信号进行数据处理，并将处理结果传输给计算机。
类型：Si-PIN X-123(美国原装进口)
Be窗???：1mil(0.0254mm)
分辨率：145±5eV
系统峰背比：≥ 6200/1
能量响应范围：1keV — 40keV
推荐计数率：5000cps
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。
Ux-720高效三维散热系统，大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。三重射线防护系统（软件、硬件、迷宫式设计），开盖测试自动警示系统。