测试二极管的反向恢复特性通常需要复杂的测试设备。你必须能够建立一个正向传导条件，一个阻断状态和两者之间的转换。你还需要一种从产生的微波中提取特征的方法。总之，一个人需要处理这种复杂的工作，而不仅仅是例行公事。这一事实解释了为什么工程师通常倾向于依赖公开发表的数据。
自己检查反向恢复时间是有益的，但前提是要做的测试简单明了。此模式将使您能够在相同条件下比较不同制造商的器件，并测试器件和没有此规格的测试器件，如衬底二极管驱动器集成电路、齐纳二极管和整流器标准。由于测试参数组合的数量，直接比较一个数据几乎是不可能的。注意缩短反向恢复时间不一定好。慢速二极管同样有用。他们可以产生小的死亡时间，提高效率，切换和提供其他好处。
这种设计理念表明，检测器仅使用少量廉价的基本元件，但允许您检查反向恢复时间。测试条件是固定和简洁的，我们为标准化测试和比较提供了一个通用的标准。这些条件都符合99%的易测设备。检测器的正向电流足够低，以使小开关二极管足够安全，但又足够高，以克服较大器件电容的影响。
二极管电阻器和门是一个电路。
。门上的二极管是被测设备(图1)。一个真实的二极管在过渡期后保持导通，并通过R35产生一个正向脉冲。脉宽直接测量，电路采用精细配置。网络R19/C15对脉冲进行平均，放大并显示结果电压。由于测量频率固定在50 kHz，正确的比例因子是完全必要的。
真正的二极管也有直流电压。Q3负责通过IC4A对直流电压进行采样所引起的问题，并通过R35清除输出电压。可以通过改变放大器IC4a来设置各种范围。在这种情况下，范围安排为1、2.5和5。这种测量方法的优点是可以处理DC或低频信号，不需要快速比较器或采样器，也可以解决数百皮秒的问题。
IC3的内置振荡器产生时钟。该时钟的频率为800kHz，在第三季度可降至50kHz。可以选择的慢速模式适用于需要在5微秒以下进行测试的机器。L1的插入将时钟频率降低到80kHz，并允许您测量快至50微秒的反向翻转时间。IC2产生测试波形，并在时钟门上转换50kHz信号。因为采样不发生在转变附近，所以没有必要非常快速地求和。C1发射采样脉冲，并提供方便的触发信号，由Q1缓冲。当你把示波器连接到被测设备的正极时，你可以直观地观察到波形。
IC2B的引脚8是一个未使用的输出端，带有一个负电压发生器，作为IC4输出端的偏置端口，使它们达到一个真正的零。LED用作55v的基准电压，并根据周围温度环境的反向恢复时间因素提供一些温度补偿。你可以对电路做些调整。比如没有加二极管。您可以缩短该程序的重复时间，直到读数不依赖于位置的长度。由于放大器的失调，此调整与0结合使用。
现在，你可以消除VF的影响。您可以通过缩短调整测试点1和4来调整0纳秒，或者您可以将RV2调整为在10纳秒内读取0。这种调整产生0纳秒，正向典型偏移为1到2纳秒。时间和电荷注入效应的残余偏斜导致了这种偏移。通常这种偏离应该不是问题，因为它很小，很稳定，很持久。如果需要精确到皮秒，需要测试一个已知的超快二极管，如FD700或BAY82。同时，你需要调整0纳秒的实际值来读取。如果你拿不到这个二极管，你可以一直移动它1.5纳秒。这种调整通常足以达到500皮秒的精度。肖特基二极管不适用。尽管它们的恢复时间很短， 由于其相对较高的电容和不可忽略的漏电流，它们产生非零读数。低电容，混合二极管对这个测试来说太脆弱了。