Ux-720精密涂层分析仪X射线荧光光谱仪是专门为金属合金、铝型材、塑料等材料的涂层分析和达克罗涂层分析而设计的普及型机型，为三重射线保护系统。人性化的操作界面；华为VisualFp基本参数法分析软件可用于盲测(即无需标样校准)，以测试客户样品的涂层厚度和分析基材成分，降低客户购买标样(特别是特殊样品)的成本。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂的工厂对涂布、镀膜的过程控制。
涂层厚度的测量方法主要有:楔形切割法、光切法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线背散射法、电容法、磁性测量法和涡流测量法。这些方法的前五种都是破坏性检测，比较繁琐，速度慢，大多适合抽样检验。
x射线和β射线法为非接触式无损测量，测量范围小。x射线法可以测量极薄的涂层、双层涂层和合金涂层。β射线法适用于原子序数大于3的涂层和镀层的测量。电容法仅在测量薄导体的绝缘涂层厚度时使用。
Ux-720检测系统
功能:检测样品的特征X射线，对采集的信号进行处理，并将处理结果传送给计算机。
型号:Si-PIN X-123(美国进口)
是窗户吗？？？:1毫米(0.0254毫米)
分辨率:145±5eV
系统峰背比:≥ 6200/1
能量响应范围:1千电子伏-40千电子伏
推荐计数率:5000cps