涂层厚度测量已成为加工工业和表面工程质量检验的重要组成部分，是产品达到优良质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中对涂层厚度有明确要求。
x射线和β射线法为非接触式无损测量，测量范围小。x射线法可以测量极薄的涂层、双层涂层和合金涂层。β射线法适用于原子序数大于3的涂层和镀层的测量。电容法仅在测量薄导体的绝缘涂层厚度时使用。
Ux-720滤光系统和准直系统
过滤系统采用金属箔过滤技术，五种不同材质的过滤器自动切换。
准直系统采用微孔准直技术，0.5mm、φ 1 mm、φ 2 mm、φ 4 mm四种孔径自动切换。
滤光系统和准直系统自由组合，达到测试效果。
Ux-720检测系统
功能:检测样品的特征X射线，对采集的信号进行处理，并将处理结果传送给计算机。
型号:Si-PIN X-123(美国进口)
是窗户吗？？？:1毫米(0.0254毫米)
分辨率:145±5eV
系统峰背比:≥ 6200/1
能量响应范围:1千电子伏-40千电子伏
推荐计数率:5000cps