x射线和β射线法为非接触式无损测量，测量范围小。x射线法可以测量极薄的涂层、双层涂层和合金涂层。β射线法适用于原子序数大于3的涂层和镀层的测量。电容法仅在测量薄导体的绝缘涂层厚度时使用。
Ux-720的性能优势
1.VisualFp基本参数分析软件可以测试样品的涂层厚度，无需标准样品校准。
2.它不仅可以测试金属涂层，还可以测量合金涂层、铝合金涂层、玻璃涂层和塑料涂层，开创了XRF涂层厚度测量的综合技术。
3.软件可以根据样品的材质、形状、大小自动设置光管的功率，不仅可以延长光管的使用寿命，还可以充分发挥探测器的性能，大大提高测量精度。
4.业界提供了一个开放的工作曲线校准平台，可以为每个用户量身定制涂层分析的工作曲线。
5.三重射线防护(软件、硬件、迷宫设计)，确保操作人员的人身安全和意外操作造成的辐射伤害。
6.微调仪器外部样品的设计，以减少和防止样品放置后关闭样品盖引起的振动引起的测试位置变化而导致的测试不准确。
7.测试报告的输出格式(Excel、PDF等。)可根据用户要求定制，符合工厂的各种统计和格式要求。
8.行业专家达克罗涂层工艺厚度分析的软件方法，完全替代金相显微镜技术在该行业的应用。
9.软件对测试结果进行多次统计分析。
10.行业专家不仅可以测试涂层厚度，还可以同时分析基底和涂层成分的XRF。
Ux-720高准平台
在加载试验平台上，微调装置在仪器的右侧，通过旋转按钮来调整样品的移动，移动范围为X轴15 mm，Y轴15mm。结合260万像素的高清CCD，对测试样品进行定位，防止样品放置后关闭样品盖造成的震动，使测试位置发生变化，测试不准确。
随着科技的发展，特别是近年来微机技术的引入，X射线涂层测厚仪的使用向着小型化、智能化、多功能、高精度和实用化迈进了一步。测量的分辨率达到了0.1微米，精度可以达到1%，有了很大的提高。由于其应用范围广、测量范围宽、操作简单、价格低廉，在工业和科研中得到广泛应用。