使用半导体探测器和多道脉冲幅度分析器可以提高分辨率，并且可以用微处理器同时测定样品中的o-sn元素，分析速度快。
探测器直接测量元素的X射线荧光强度，而我们关注的是元素的含量。我们根据X射线荧光强度与元素含量的比例关系，通过测量已知含量的标准样品，建立工作曲线(由安装工程师设定)，然后根据待测样品的X射线荧光强度，由计算机自动换算成含量值。
Ux-2100 Plus仪器安装使用注意事项
1.仪器就位前，请连接左图，保证仪器的使用空间；
2.使用环境要求无强电磁干扰，无腐蚀性气体；
3.使用温度变化不超过5℃/小时，湿度保证不结露；
4.仪器需要可靠的独立接地，对地电阻应≤4ω；
5.测试小件物品时，请使用样品杯装置或用聚脂薄膜密封测试孔，并定期清洁样品室。清洗时，用胶带封住测试孔，确保没有异物掉入仪器内损坏仪器；
6.本仪器为辐射装置，不要通电开机；
7.仪器出现故障，请及时通知厂家，不要自行维修造成维修损失；
8.本仪器为精密仪器，需小心处理，否则可能造成人为损坏。
x射线荧光光谱仪是一种可以快速同时测定多种元素的仪器。样品经X射线照射后，各元素原子内壳层(K、L或M层)的电子被激发，将原子逐出，引起电子跃迁，发出该元素的特征X射线荧光。每种元素都有其特有的特定波长的X射线。能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)利用荧光X射线能量不同的特点，通过探测器本身的能量分辨能力来区分探测到的X射线。