Ux-2100 Plus通过了GB/T33352-2016《电子电气产品中限用物质筛查和应用通则》的等级认证，应用于RoHS/ELV控制的有害元素(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)、溴(Br)和氯(Cl)的检测。
X射线荧光光谱仪可以根据各元素特征X射线的强度来确定元素的含量。
近年来，X射线荧光光谱分析在各个行业的应用范围不断扩大，在冶金、地质、有色金属、建材、商检、环保、卫生等领域得到了广泛应用，尤其是在RoHS检测领域。
它可以分析大多数分析元素，包括固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围从Be到u，具有分析速度快、测量范围宽、干扰小等特点。
探测器直接测量元素的X射线荧光强度，而我们关注的是元素的含量。我们根据X射线荧光强度与元素含量的比例关系，通过测量已知含量的标准样品，建立工作曲线(由安装工程师设定)，然后根据待测样品的X射线荧光强度，由计算机自动换算成含量值。
光源激发样品产生的特征X射线直接进入探测器，探测器将光信号转换成电信号，主放大器输出的脉冲传输到ADC(模数转换器)，ADC将具有脉冲幅度的模拟信号转换成数字信号，产生的数字信号作为与MCA连接的地址，然后根据这些地址检测不同脉冲即X射线的能量，记录相应的脉冲数。