Ux-720高准平台
在加载试验平台上，微调装置在仪器的右侧，通过旋转按钮来调整样品的移动，移动范围为X轴15 mm，Y轴15mm。结合260万像素的高清CCD，对测试样品进行定位，防止样品放置后关闭样品盖造成的震动，使测试位置发生变化，测试不准确。
Ux-720高分辨率CCD
260万像素的高清CCD摄像机可以有效地实时观察测试区域的情况，并拍摄材料的照片，作为测试报告的一部分。
x射线和β射线法为非接触式无损测量，测量范围小。x射线法可以测量极薄的涂层、双层涂层和合金涂层。β射线法适用于原子序数大于3的涂层和镀层的测量。电容法仅在测量薄导体的绝缘涂层厚度时使用。
涂层厚度的测量方法主要有:楔形切割法、光切法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线背散射法、电容法、磁性测量法和涡流测量法。这些方法的前五种都是破坏性检测，比较繁琐，速度慢，大多适合抽样检验。