涂层厚度的测量方法主要有:楔形切割法、光切法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线背散射法、电容法、磁性测量法和涡流测量法。这些方法的前五种都是破坏性检测，比较繁琐，速度慢，大多适合抽样检验。
Ux-720仪器标配设备参数。
1.计算机
CPU:英特尔双核内存:2G
硬盘:500G显示器:19英寸
2.喷墨式打印机
彩色喷墨打印机
3、仪器附件及技术数据
50片测试胶片
五个保险管
保修卡。
批准证书
仪器操作手册
辐射安全检查报告
x射线和β射线法为非接触式无损测量，测量范围小。x射线法可以测量极薄的涂层、双层涂层和合金涂层。β射线法适用于原子序数大于3的涂层和镀层的测量。电容法仅在测量薄导体的绝缘涂层厚度时使用。
随着科技的发展，特别是近年来微机技术的引入，X射线涂层测厚仪的使用向着小型化、智能化、多功能、高精度和实用化迈进了一步。测量的分辨率达到了0.1微米，精度可以达到1%，有了很大的提高。由于其应用范围广、测量范围宽、操作简单、价格低廉，在工业和科研中得到广泛应用。