探测器直接测量元素的X射线荧光强度，而我们关注的是元素的含量。我们根据X射线荧光强度与元素含量的比例关系，通过测量已知含量的标准样品，建立工作曲线(由安装工程师设定)，然后根据待测样品的X射线荧光强度，由计算机自动换算成含量值。
元素的原子受到高能辐射激发，引起内部电子跃迁，发出某些特殊波长的X射线。根据莫斯勒定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，数学关系如下:
λ=K(Z？s)？二
其中k和s是常数。
根据量子理论，X射线可以看作是由一个量子或光子组成的粒子流，每个光的能量如下:
E=hν=h C/λ
其中e为X射线光子的能量，单位为keV；h是普朗克常数；ν是光波的频率；c是光速。
因此，只要测量荧光X射线的波长或能量，就可以知道元素的种类，这是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此可以进行元素的定量分析。
Ux-2100 Plus通过了GB/T33352-2016《电子电气产品中限用物质筛查和应用通则》的等级认证，应用于RoHS/ELV控制的有害元素(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)、溴(Br)和氯(Cl)的检测。
x射线荧光光谱仪是一种可以快速同时测定多种元素的仪器。样品经X射线照射后，各元素原子内壳层(K、L或M层)的电子被激发，将原子逐出，引起电子跃迁，发出该元素的特征X射线荧光。每种元素都有其特有的特定波长的X射线。能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)利用荧光X射线能量不同的特点，通过探测器本身的能量分辨能力来区分探测到的X射线。