x射线和β射线法为非接触式无损测量，测量范围小。x射线法可以测量极薄的涂层、双层涂层和合金涂层。β射线法适用于原子序数大于3的涂层和镀层的测量。电容法仅在测量薄导体的绝缘涂层厚度时使用。
Ux-720仪器标配设备参数。
1.计算机
CPU:英特尔双核内存:2G
硬盘:500G显示器:19英寸
2.喷墨式打印机
彩色喷墨打印机
3、仪器附件及技术数据
50片测试胶片
五个保险管
保修卡。
批准证书
仪器操作手册
辐射安全检查报告
涂层厚度的测量方法主要有:楔形切割法、光切法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线背散射法、电容法、磁性测量法和涡流测量法。这些方法的前五种都是破坏性检测，比较繁琐，速度慢，大多适合抽样检验。
Ux-720精密涂层分析仪X射线荧光光谱仪是专门为金属合金、铝型材、塑料等材料的涂层分析和达克罗涂层分析而设计的普及型机型，为三重射线保护系统。人性化的操作界面；华为VisualFp基本参数法分析软件可用于盲测(即无需标样校准)，以测试客户样品的涂层厚度和分析基材成分，降低客户购买标样(特别是特殊样品)的成本。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂的工厂对涂布、镀膜的过程控制。